逆解析

逆解析 - ダイナミックマップ

商品番号 : SMB-79511

出版社ネオテクノロジー
出版年月2025年6月
価格タイプ税込価格
価格198,000円
種別日本語調査報告書

逆解析

逆解析は、モデルを用いて原因や結果を求める通常のシミュレーションとは逆に結果から原因やモデルを特定するデータ解析手法です。

本書では特許情報から逆解析がどのようにして課題を解決したかに着目して調査しました。逆解析を共通基盤技術として捉え、さまざまな分野の技術者が活用できるように、特許情報に現れる逆解析を利用することによるメリットに着目して技術分類を行いました。

【調査対象技術】

本ダイナミックマップでは、逆解析に基づくデータ解析に特徴がある特許情報を調査の対象としました。

逆解析を用いてもよい、などの拡張記載

逆解析を利用しているが、適用について具体的な説明がないもの

はノイズとしました。

明らかなノイズ情報は対象外としています。

単なる拡張記載の特許情報はノイズ情報です。

技術と企業の全体像を俯瞰できるダイナミックマップ

本ダイナミックマップは、タイトルテーマ技術に関する特許情報の調査結果を、技術分類ごとに分けた技術側と出願上位10社までの企業側の2軸から閲覧することができる電子版特許調査報告書です。『技術側』では出願件数推移グラフや技術の企業シェア等を掲載し、『企業側』では出願内容を技術分類ごとに分けたレーダーチャートや発明者リスト、共同出願人リスト等を掲載しています。

特許調査、技術動向把握、事業経営企画のための特許調査資料としてご利用ください。

目次/技術分類

  • 原因の推定

モデルの出力(結果)から入力(原因)を推定する技術に特徴がある特許情報を取り上げました。測定データから解析条件を特定する、異常の原因を推定する、製造仕様を探索する技術などを含みます。

  • モデルの更新

予測モデルを訓練・更新する技術に特徴がある特許情報を取り上げました。修正値の算出や最適値の探索などを含みます。

  • パラメータの推定

モデルの出力(応答)からパラメータを推定する技術に特徴がある特許情報を取り上げました。係数や合成比率を同定(算出)する技術などを含みます。

  • 分布・構造の推定

測定データから内部の構造や特性の分布を推定する技術に特徴がある特許情報を取り上げました。形状、位置、方向を決定する技術なども含みます。

  • 材料の推定

所望の特性を実現するための材料を推定する技術に特徴がある特許情報を取り上げました。

  • 画像の復元

画像データを復元する技術に特徴がある特許情報を取り上げました。

  • その他・参考

上記分類には該当しないが、技術的に参考として収録しておきたい特許情報等を取り上げました。例えば逆問題を解くための論理回路に関する技術などを取り上げました。